[发明专利]碳纳米管薄膜悬空的场效应晶体管及晶体管制造方法在审

专利信息
申请号: 202010450348.6 申请日: 2020-05-25
公开(公告)号: CN113725362A 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 蔡金钟;孙连峰;任红轩;池建义 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心;中国科学院包头稀土研发中心
主分类号: H01L51/05 分类号: H01L51/05;H01L51/10;H01L51/40;H01L51/30
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 张秀程
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例涉及晶体管技术领域,公开了碳纳米管薄膜悬空的场效应晶体管及晶体管制造方法。本发明实施例提供的碳纳米管薄膜悬空的场效应晶体管包括基底;位于基底上的第一绝缘层;位于第一绝缘层上的第一源极、第一漏极;位于第一源极、第一漏极上的碳纳米管薄膜,碳纳米管薄膜悬空于第一源极与第一漏极之间的间隔区域上;位于碳纳米管薄膜上方的第二源极、第二漏极;位于碳纳米管薄膜上的第二绝缘层;位于第二绝缘层上的顶栅极。可见,本发明实施例可将碳纳米管薄膜悬空,可以避免基底对导电沟道的影响,从而解决了传统碳纳米管薄膜FET中基底影响导电沟道性能的技术问题;同时,还可降低薄膜与电极的接触电阻。
搜索关键词: 纳米 薄膜 悬空 场效应 晶体管 制造 方法
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