[发明专利]缺陷检测方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202010380877.3 | 申请日： | 2020-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN111583225A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 周乔珂 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/62;G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 孟庆莹 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种缺陷检测方法、装置及存储介质。缺陷检测方法用于显示器件。缺陷检测方法包括：获取显示器件处于显示状态的图像；基于经验模态分解算法去除图像的噪声信号并提取特征信号；基于支持向量机对特征信号进行处理以检测图像的亮度缺陷。本发明实施方式的缺陷检测方法，通过经验模态分解算法提取图像的特征信号及支持向量机对特征信号的处理，可自动检测显示器件处于显示状态的图像的亮度缺陷，检测标准统一客观，能够实现亮度缺陷的可靠检测，且检测速度较快。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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