[发明专利]一种测试探头及其设备与应用在审
| 申请号： | 202010366765.2 | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN111610352A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 李慧萍;潘淑芳 | 申请（专利权）人： | 杭州川源科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试探头及其设备与应用，所述一种测试探头包括至少两个独立的导电层，至少一个绝缘层，至少所述独立的导电层之间设有绝缘层；所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或者叠层排列时，第一层为导电层或绝缘层，最后一层为导电层或绝缘层。其排除测试对象与测试探头的接触电阻、测试探头本身的电阻、馈线电阻等外部背景电阻，测量准确度更高，能识别出测试对象的电阻值及其微妙的变化，大大提高了测量结果的可靠性，有力地为生产或研发提供判断，极大提升生产、研发效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 探头 及其 设备 应用 | ||
【主权项】：
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