[发明专利]一种测试探头及其设备与应用在审
| 申请号： | 202010366765.2 | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN111610352A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 李慧萍;潘淑芳 | 申请（专利权）人： | 杭州川源科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R27/02 |
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| 地址： | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测试 探头 及其 设备 应用 | ||
1.一种测试探头，其特征在于，包括至少两个独立的导电层，至少一个绝缘层，至少所述独立的导电层之间设有绝缘层。
2.如权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列。
3.如权利要求2所述的测试探头，其特征在于，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列时，第一层为导电层或绝缘层，最后一层为导电层或绝缘层。
4.如权利要求1-3任一项所述的测试探头，其特征在于，从测试探头的横截面来看，各导电层的形状独立选自标准圆、椭圆、非规则圆、多边形或不规则形状，各绝缘层的形状独立选自标准圆、椭圆、非规则圆、多边形或不规则形状。
5.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述各导电层的电阻率为1×10-08-1×10-5Ω·m。
6.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述测试探头的表面硬度大于等于50HV。
7.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述测试探头的表面粗糙度小于等于100μm。
8.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述各绝缘层的电阻率大于等于105Ω·m。
9.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述各绝缘层的厚度为0.001-500mm。
10.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述绝缘层为复合结构，和/或所述导电层为复合结构。
11.一种测试设备，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的测试探头。
12.如权利要求11所述的测试设备，其特征在于，所述测试探头至少为两个，各所述测试探头上下接触后相应导电部分实现上下独立导通。
13.如权利要求12所述的测试设备，其特征在于，各所述测试探头上下接触后其端截面接触，接触面在同一个面上。
14.如权利要求11所述的测试设备，其特征在于，还包括与测试探头连接的测试导线。
15.如权利要求1-10任一项所述的测试探头或如权利要求11-14任一项所述的测试设备在测试中的应用。
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