[发明专利]一种新型铁电拓扑畴存储单元的制备方法在审

专利信息
申请号: 202010281515.9 申请日: 2020-04-10
公开(公告)号: CN111540742A 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: 高兴森;杨文达;陈超;田国 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: H01L27/11504 分类号: H01L27/11504;H01L27/11507
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人: 辜丹芸
地址: 510006 广东省广州市广州大学城*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种新型铁电拓扑畴存储单元的制备方法,包括以下步骤:S1:采用脉冲激光沉积法在(001)方向的STO(SrTiO3)单晶衬底上沉积一层BFO(BiFeO3)薄膜;S2:采用热蒸镀法在BFO薄膜表面上沉积一层金镀层,制得铁电材料;S3:存储单元的制备:采用导电原子力显微镜(PFM)探针在S2所述的金镀层表面进行刮擦,刮去局部金镀层,露出BFO区域,将BFO区域外周的金接地作为金电极,BFO区域中心作为BFO电极,制得存储单元;S4:存储单元的调控:通过向BFO电极施加点电压诱导BFO区域形成中心汇聚畴或中心发散畴。相比于现有技术,本发明制得一种方便调控、稳定性高的拓扑畴,能够实现高密度存储。
搜索关键词: 一种 新型 拓扑 存储 单元 制备 方法
【主权项】:
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