[发明专利]一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法及装置

摘要

本发明涉及一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法，至少包括如下步骤：配置放射源和探测器，在所述放射源和所述探测器之间设置用于放置待检测样品的空样品盒，使得放射源产生的放射性射线能够按照沿设定方向传输的方式进入所述探测器，并促使所述探测器生成第一数据，在所述放射源和所述探测器之间设置待检测样品，使得放射源产生的放射性射线在沿所述设定方向传输时，能够按照穿透所述待检测样品的方式进入所述探测器，并促使所述探测器生成第二数据；基于所述第一数据获取第一计数率n1(E)，基于所述第二数据获取第二计数率n2(E)，使得待检测样品对放射源的质量衰减系数μm(E)能够通过公式进行表示，其中h为待检测样品的厚度。