[发明专利]一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法及装置

权利要求书

1.一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法，至少包括如下步骤：

配置放射源(12)和探测器(11)，在所述放射源(12)和所述探测器(11)之间设置用于放置待检测样品的空样品盒，使得放射源(12)产生的放射性射线能够按照沿设定方向传输的方式进入所述探测器(11)，并促使所述探测器(11)生成第一数据，

其特征在于，

所述质量衰减测量方法还包括如下步骤：

在所述放射源(12)和所述探测器(11)之间设置待检测样品，使得放射源(12)产生的放射性射线在沿所述设定方向传输时，能够按照穿透所述待检测样品的方式进入所述探测器(11)，并促使所述探测器(11)生成第二数据；

基于所述第一数据获取第一计数率n1(E)，基于所述第二数据获取第二计数率n2(E)，使得待检测样品对放射源(12)的质量衰减系数μm(E)能够通过公式进行表示，其中h为待检测样品的厚度。

2.根据权利要求1所述的质量衰减测量方法，其特征在于，所述第一计数率n₁(E)或所述第二计数率n₂(E)的确定至少包括如下步骤：

基于所述探测器(11)采集的第一数据或所述第二数据获取放射源(12)的γ能谱，并计算对应峰位的计数率，其中，所述计数率n_i(E)能够通过公式进行确定，N_i(E)表示全能峰净峰面积。

3.根据权利要求2所述的质量衰减测量方法，其特征在于，全能峰净峰面积N_i(E)的确定至少包括如下步骤：

在全能峰为独立单峰的情况下，全能峰净峰面积N_i(E)能够通过公式Ni(E)＝N_Ti(E)-B_i(E)进行表示，其中，N_Ti(E)表示全能峰总峰面积，B_i(E)为峰位本底面积。

4.根据权利要求3所述的质量衰减测量方法，其特征在于，全能峰净峰面积N_i(E)的确定还包括如下步骤：

在全能峰为叠加峰的情况下，对全能峰的峰形采用高斯函数G(E)＝G·进行简化描述，其中，G表示峰高度，E₀表示峰中心道址能量，σ表示标准偏差；

基于拟合得到叠加峰中每个高斯峰的拟合参数，使得每个高斯峰的峰面积能够通过公式进行表示。

5.根据权利要求4所述的质量衰减测量方法，其特征在于，全能峰总峰面积N_Ti(E)能够基于道数相加的方式确定，其中：

在选定的峰位位于L道和H道之间的情况下，全能峰总峰面积N_Ti(E)能够通过公式其中，C_j表示j道的计数。

6.根据权利要求5所述的质量衰减测量方法，其特征在于，全能峰位本底面积B_i(E)能够通过如下方式确定：

在选定的峰位位于所述L道和所述H道之间的情况下，全能峰位本底面积B_i(E)能够通过公式进行确定，其中，C_L表示L道的计数，C_H表示H道的计数。

7.一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量装置，其特征在于，所述质量衰减测量装置至少包括：

放射源(12)，其能够产生放射性射线，使得所述放射性射线能够按照沿设定方向传输的方式进入探测器(11)，并促使所述探测器(11)生成第一数据，其中，所述放射源(12)和所述探测器(11)之间能够设置待检测样品，使得放射源(12)产生的放射性射线在沿所述设定方向传输时，能够按照穿透所述待检测样品的方式进入所述探测器(11)，并促使所述探测器(11)生成第二数据；

数据处理器(17)，其配置为：基于所述第一数据获取第一计数率n₁(E)，基于所述第二数据获取第二计数率n₂(E)，使得待检测样品对放射源(12)的质量衰减系数μ_m(E)能够通过公式进行表示，其中h为待检测样品的厚度。