[发明专利]存储器的测试方法、存储介质和计算机设备有效
| 申请号： | 202010230948.1 | 申请日： | 2020-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN113448782B | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 龙光腾;何浩;陆丹;胡波 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F13/12;G06F13/16;G11C29/10 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备。存储器的测试方法包括：获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样，多个所述芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接；确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，并将所述第一信息和所述第二信息作为对应连接信息；对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息；根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。本公开能够提高测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 存储 介质 计算机 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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