[发明专利]存储器的测试方法、存储介质和计算机设备

说明书

本公开提供了一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备。存储器的测试方法包括：获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样，多个所述芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接；确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，并将所述第一信息和所述第二信息作为对应连接信息；对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息；根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。本公开能够提高测试的准确性。

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，尤其涉及一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备。

背景技术

随着集成电路技术的快速发展，存储器引起了人们越来越多的关注。

存储器一般包括多个芯片接口，存储器控制器通过多个物理通信接口(PHY，Physical Interface)与存储器连接，且多个物理通信接口与存储器的多个芯片接口一一对应连接。在对存储器进行测试的过程中，需要通过存储器控制器准确控制写入芯片接口的测试式样。然而，在操作人员将所需式样写入物理通信接口后，由于物理通信接口和芯片接口之间的数据线因为线长等原因而出现重排(swizzle)的情况，常常无法在芯片接口写入所需的测试式样，增加了测试的难度。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备，能够降低测试的难度。

根据本公开的一个方面，提供一种存储器的测试方法，所述存储器的测试方法包括：

获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样，多个所述芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接；

确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，并将所述第一信息和所述第二信息作为对应连接信息；

对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息；

根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。

在本公开的一种示例性实施例中，所述确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，包括：

将多个所述芯片接口连续编号，所述芯片接口的编号均为整数；

将多个所述物理通信接口连续编号，所述物理通信接口的编号均为整数；

确定与编号为第一字符的所述物理通信接口连接的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符，以得到所述第一字符和所述第二字符之间的对应关系，并作为所述对应连接信息。

在本公开的一种示例性实施例中，所述确定与编号为第一字符的所述物理通信接口连接的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符，包括：

向多个所述物理通信接口写入第一参考式样，所述第一参考式样指向编号为第一字符的所述物理通信接口；

获取多个所述芯片接口处输出的第二参考式样，所述第二参考式样为所述第一参考式样经传输后得到；

确定所述第二参考式样指向的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符。

在本公开的一种示例性实施例中，所述对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息，包括：

基于所述对应连接信息，按照多个所述芯片接口的连续编号的顺序，重新排列各所述第二字符映射的第一字符作为第三字符，以生成第三信息；

将所述第一信息和所述第三信息作为映射连接信息。