[发明专利]划痕缺陷检测方法、装置、计算设备和存储介质在审
| 申请号： | 202010219811.6 | 申请日： | 2020-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN111444921A | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 郎建业;黄虎 | 申请（专利权）人： | 浙江华睿科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/34 | 分类号： | G06K9/34;G06T3/40;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 310053 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种划痕缺陷检测方法、装置、计算设备和存储介质。该方法包括：获取待检测对象的目标图像；对所述目标图像进行语义分割，以确定语义分割结果为具有划痕缺陷的候选像素点；对所述候选像素点进行连通区域分析，得到至少一个连通区域；分别对每个连通区域进行骨架提取，得到至少一个骨架作为检测出的划痕。由此，以为提高划痕检测的效率以及检测精度并提高系统鲁棒性提供支持。 | ||
| 搜索关键词： | 划痕 缺陷 检测 方法 装置 计算 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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