[发明专利]一种设备基准快速调平方法有效
| 申请号： | 202010184959.0 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN111238458B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 王铜;梁静;罗涛;董岚;马娜;何振强;柯志勇;门玲鸰;李波;王小龙;闫路平;韩圆颖;卢尚;沈建新;张晓辉 | 申请（专利权）人： | 散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00;G01B11/00;G06F17/16 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 郭燕 |
| 地址： | 523808 广东省东莞*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及测量设备技术领域，具体涉及一种设备基准快速调平方法，首先对设备进行标定，在设备上设置多个标定点，在设备上选取多个特征点，通过激光跟踪仪获取多个特征点的坐标，依据特征点的坐标拟合出设备基准并依此建立设备坐标系，获取标定点在设备坐标系下的理论坐标以及在水平坐标系下的实测坐标后，通过坐标转换后，获取标定点的调整偏差，根据调整偏差指导调整设备进行调平，这样调平方法直观且有效，可以快速的将设备调平。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 设备 基准 快速 平方 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所，未经散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010184959.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
