[发明专利]一种设备基准快速调平方法

说明书

本发明涉及测量设备技术领域，具体涉及一种设备基准快速调平方法，首先对设备进行标定，在设备上设置多个标定点，在设备上选取多个特征点，通过激光跟踪仪获取多个特征点的坐标，依据特征点的坐标拟合出设备基准并依此建立设备坐标系，获取标定点在设备坐标系下的理论坐标以及在水平坐标系下的实测坐标后，通过坐标转换后，获取标定点的调整偏差，根据调整偏差指导调整设备进行调平，这样调平方法直观且有效，可以快速的将设备调平。

技术领域

本发明涉及测量设备技术领域，具体涉及一种设备基准快速调平方法。

背景技术

在设备安装的过程中，经常要将设备的基准调整水平，这样方便设备后续组装。设备的基准通常为基线线、面，由反映设备基准的特征位置来表示，如机械精加工面。通过在特征位置上选取覆盖整个特征位置的测量点进行测量，对测量点进行几何构造得到设备基准，然后指导设备高度调节机构不断调整，从而使设备基准调平。

设备的调平是一个动态过程，某一个高程调节机构的调整会影响整个设备的水平状态，此时所有测量点的位置会发生变化。对于大型复杂的设备，特征位置基本覆盖了整个设备，其测量点很多，每进行一次调整，对所有测量点的更新测量会大大降低工作效率。同时，设备由多个高度调节机构共同支撑，高度调节机构会使高度调整产生相互耦合且其调节范围有限，因此现有的设备调平过程需要花费大量的时间。

发明内容

为了解决现有技术中设备调平的方法调节过程慢且需要消耗大量的时间的技术问题，本申请提供一种设备基准快速调平方法。

一种设备基准快速调平方法,包括：

设备标定步骤，在设备上设置多个标定点，在设备上选取多个特征点，通过激光跟踪仪获取所述多个特征点的坐标，依据所述特征点的坐标拟合出设备基准并依此建立设备坐标系，获取所述标定点在所述设备坐标系下的理论坐标；

调整偏差获取步骤，采用激光跟踪仪测量所述标定点在水平坐标系下的实测坐标，将所述水平坐标系和设备坐标系关联后，根据每个标定点的实测坐标和理论坐标获取其对应的调整偏差；

调平步骤，根据所述调整偏差调整设备的对应的调节机构，直到所述调整偏差缩小至预设限差之内。

其中，所述在设备上选取多个特征点，通过激光跟踪仪获取所述多个特征点的坐标，依据所述特征点的坐标拟合出设备基准并依此建立设备坐标系包括：

在设备上选取多个特征点，依次将反射球放置在每个特征点处，通过激光跟踪仪获取每个特征点处的反射球的坐标，依据所述特征点处的反射球的坐标构造出设备的基准，依据所述基准建立三维直角坐标系作为设备坐标系。

其中，所述在设备上设置多个标定点包括：

在设备上选取多个标定点，使得所述标定点至少与调节机构一一对应，在所述标定点处固定靶标座，在所述靶标座上放置反射球。

其中，所述采用激光跟踪仪测量所述标定点在水平坐标系下的实测坐标包括：

将激光跟踪仪调至水平状态，然后测量所述标定点在激光跟踪仪水平坐标系下的坐标作为实测坐标。

其中，所述将所述水平坐标系和设备坐标系关联后，根据每个标定点的实测坐标和理论坐标获取其对应的调整偏差包括：

通过坐标转换的方法将所述水平坐标系下测量到的所述标定点的实测坐标转换到设备坐标系下，将每个标定点转换后的实测坐标与所述理论坐标相减，得到每个标定点的调整偏差。

其中，所述通过坐标转换的方法将所述水平坐标系下测量到的所述标定点的实测坐标转换到设备坐标系下，将每个标定点转换后的实测坐标与所述理论坐标相减，得到每个标定点的调整偏差包括：