[发明专利]一种面板缺陷检测中的样本处理方法在审
| 申请号： | 202010150387.4 | 申请日： | 2020-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN111325744A | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都数之联科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/32;G06K9/62;G01N21/88 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 熊曦 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种面板缺陷检测中的样本处理方法，应用于面板缺陷检测方法或系统中。采集面板缺陷图片形成面板缺陷样本，对面板缺陷样本进行均衡处理，利用均衡处理后的新面板缺陷样本训练深度学习模型；对面板缺陷样本进行均衡处理包括：对面板缺陷样本中的面板缺陷图片执行预设操作，预设操作包括：随机旋转角度、翻转、裁剪、变形、颜色抖动、调整权重系数、在loss函数中设置类别权重、使用focal loss代替cross entropy作为分类损失函数以及使用OHEM采样训练样本，本方法能够解决面板行业自动缺陷检测系统中样本不均衡的问题，使得基于深度学习的自动缺陷检测方法及系统可以更好地应用于面板行业。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面板 缺陷 检测 中的 样本 处理 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都数之联科技有限公司，未经成都数之联科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010150387.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
