[发明专利]一种聚偏氟乙烯γ型晶体的制备方法有效

专利信息
申请号: 202010129673.2 申请日: 2020-02-28
公开(公告)号: CN111205496B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 孙晓丽;洪亚;闫寿科;李慧慧;任忠杰 申请(专利权)人: 北京化工大学
主分类号: C08J7/00 分类号: C08J7/00;C08J5/18;C08L27/16
代理公司: 北京悦成知识产权代理事务所(普通合伙) 11527 代理人: 樊耀峰
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种聚偏氟乙烯γ型晶体的制备方法,包括如下步骤:将聚偏氟乙烯薄膜在180~260℃的剪切温度下用纤维进行剪切,得到剪切后的聚偏氟乙烯薄膜;然后将剪切后的聚偏氟乙烯薄膜在150~165℃的结晶温度下进行结晶,得到聚偏氟乙烯γ型晶体。本发明的方法可以得到聚偏氟乙烯γ型晶体。
搜索关键词: 一种 聚偏氟 乙烯 晶体 制备 方法
【主权项】:
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