[发明专利]一种半导体自动化测试系统的自保持式供电装置及方法有效
| 申请号： | 202010112449.2 | 申请日： | 2020-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN111289867B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 孙鹏 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H02J3/00 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 陶金龙;马盼 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种半导体自动化测试系统的自保持式供电装置，包括第一级供电模块和第二级供电模块，所述第一级供电模块和第二级供电模块分别为半导体自动化测试系统的第一级电器和第二级电器提供电源；所述第一级供电模块包括第一开关、第一继电器、第三继电器和第一供电接口，其中，第一开关的一端连接GND电源，另一端通过所述第一供电接口连接第三继电器的一个线圈端子，所述第三继电器的另一个线圈端子连接POWER+电源，所述第三继电器闭合时，所述半导体自动化测试系统中第一级电器开始工作。本发明提供的一种半导体自动化测试系统的自保持式供电装置及方法，避免了人为操作错误以及告警解除后导致的直接给三级电器同时下电、同时上电的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 自动化 测试 系统 保持 供电 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海御渡半导体科技有限公司，未经上海御渡半导体科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010112449.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
