[发明专利]一种提高测试流效率的半导体自动测试设备及测试方法在审
| 申请号： | 202010107641.2 | 申请日： | 2020-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN111381142A | 公开（公告）日： | 2020-07-07 |
| 发明（设计）人： | 曾海燕 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 陶金龙;尹一凡 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种提高测试流效率的半导体自动测试装置及测试方法，该方法包括建库步骤和测试步骤；建库步骤包括在数据库中建立测试项数据表和测试类型数据表，测试项数据表为以测试项为维度的存储有每个测试项数据的表，根据测试类型选择测试项模板，以新建测试类型数据表中的测试项数据；测试步骤包括接收从设备端所需测试的测试类型要求，根据测试类型所对应的测试项数据表中的测试项ID或测试项名称Name，获取所需的测试项数据；以及将测试项数据所对应指向一个信息及代码文件，发送给设备端。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 测试 效率 半导体 自动 设备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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