[发明专利]一种图案化光敏BCB半导体结构的制备方法在审

专利信息
申请号: 202010106815.3 申请日: 2020-02-20
公开(公告)号: CN111399350A 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 黄鹤;张恩;李紫谦;许海明 申请(专利权)人: 武汉光安伦光电技术有限公司
主分类号: G03F7/42 分类号: G03F7/42;G03F7/20
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 胡建文
地址: 430074 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种图案化光敏BCB半导体结构的制备方法,包括S1,在外延结构的衬底表面生长第一层二氧化硅薄膜,并在第一层二氧化硅薄膜上制作第一个光刻胶图形;S2,制作完成后,去除曝光区域的第一层二氧化硅薄膜,并采用碱溶液去除表面的光刻胶;S3,在剩余的第一层二氧化硅薄膜上涂覆光敏BCB,并光刻光敏BCB直至暴露出衬底,然后进行固化,并刻蚀光敏BCB;S4,在图案化的光敏BCB表面沉积第二层二氧化硅薄膜,并在第二层二氧化硅薄膜上制作第二个光刻胶图形;S5,制作完第二个光刻胶图形后,去除曝光区域的第二层二氧化硅薄膜,并采用有机溶液去除表面的光刻胶。本发明解决了在半导体工艺制造过程中光敏BCB遇碱性溶液发生反应而破裂的问题。
搜索关键词: 一种 图案 光敏 bcb 半导体 结构 制备 方法
【主权项】:
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