[发明专利]一种基于光学超表面的MEMS微振镜监测装置及方法有效
申请号: | 202010106616.2 | 申请日: | 2020-02-21 |
公开(公告)号: | CN111189617B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 马宣;王兆民;周兴;杨神武;孙瑞 | 申请(专利权)人: | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M11/02;G01S7/497 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 孟学英 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种基于光学超表面的MEMS微振镜监测装置及方法,装置包括:光源用于发射光信号;MEMS微振镜用于将投射至MEMS微振镜的光信号向被测空间的被测物投射,被测物反射的第一光信号反馈至光束传感器;MEMS微振镜上设置光学超表面,用于将投射至光学超表面的光信号反射的第二光信号反馈至光束传感器;光束传感器用于接收第一光信号和第二光信号;处理器用于提取光束传感器接收的第一光信号计算第一深度信息;提取光束传感器接收的第二光信号计算第二深度信息并根据第二深度信息对第一深度信息进行标定;根据第二光信号出现的时序和规律,监测MEMS微振镜的位置和工作状态。提高了MEMS微振镜的安全性及信号的完整性。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 光学 表面 mems 微振镜 监测 装置 方法 | ||
【主权项】:
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