[发明专利]一种适用于锥束CT小间隙测量的方法有效
申请号: | 202010083831.5 | 申请日: | 2020-02-10 |
公开(公告)号: | CN111307841B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 李寿涛;李敬;刘清华;陈云斌;李世根;张成鑫;邓德荣 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046;G01B15/00 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 张明利 |
地址: | 621900 四川省绵阳市*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种适用于锥束CT小间隙测量的方法,根据待测件制作参考件,并利用参考件建立关于间隙测量值和实际值的映射曲线;扫描待测件,CT重建成像;基于CT图像通过对比度查找确定小间隙成像,利用所确定的小间隙计算公式计算间隙测量值,并根据映射曲线得到间隙的实际值。本发明能够在基于面板的锥束CT图像应用,得到该成像条件下的小间隙尺寸,根据待测件设计相似参考件,得到映射曲线,对待测件的小间隙进行测量,允许参考件的设计和待测件有较大的偏离,或者直接使用小间隙计算公式计算出来的值作为测量的实际值结果,无需设计相似参考件,降低成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 ct 间隙 测量 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院应用电子学研究所,未经中国工程物理研究院应用电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010083831.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。