[发明专利]X射线检查装置在审

专利信息
申请号: 202010075639.1 申请日: 2020-01-22
公开(公告)号: CN111505027A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 西村弘;近藤慎吾;西上要;牧野伸哉;小林航太郎 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李丹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请公开了一种易于清洁作业,清洁作业时水不易流入装置的内部的X射线检查装置。X射线检查装置(100)具备X射线照射器、冷却器(70)、冷却器罩(80)以及开闭部件(90)。冷却器(70)冷却X射线照射器。冷却器罩(80)覆盖冷却器(70)。冷却器罩(80)形成有连通内外的开口(82、84)。开闭部件(90)开闭形成于冷却器罩(80)的开口(82、84)。
搜索关键词: 射线 检查 装置
【主权项】:
暂无信息
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