[发明专利]平行平面透明固体材料折射率的测量方法在审
| 申请号： | 202010057393.5 | 申请日： | 2020-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN111207911A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 李大伟;刘晓凤;赵元安;连亚飞;朱美萍;易葵;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/41 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测量平行平面透明固体材料折射率的方法，通过测量会聚光束在有无经过平行平面透明固体材料时的焦点位置变化来测量平面透明固体材料的折射率，该方法简单易行，可以方便地实现对平行平面透明固体材料折射率的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 平行 平面 透明 固体 材料 折射率 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010057393.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
