[发明专利]一种常压下硅基锗纳米点的制备方法有效

专利信息
申请号: 202010042736.0 申请日: 2020-01-15
公开(公告)号: CN111235528B 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 马淑芳;魏宇;韩斌;尚林;郝晓东;单恒升;许并社 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: C23C14/16 分类号: C23C14/16;C23C14/24;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 代理人: 姬莉
地址: 710021 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种常压下硅基锗纳米点的制备方法,属于锗纳米点制备技术领域。该制备方法包括清洗硅片;在干燥后的硅片上喷铂金层,将处理好的硅片放到条形容器的一端,另一端放入锗粉,盖上盖子,然后对装有锗粉的一端进行加热,同时向条形容器内通入氩气,氩气自装有锗粉的一端进入条形容器,直至加热结束,经降温后得硅基锗纳米点。本发明的制备方法技术易操作,设备简单,设备价格较低,没有污染物,生长周期短。
搜索关键词: 一种 压下 硅基锗 纳米 制备 方法
【主权项】:
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