[发明专利]3D存储器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202010001944.6 申请日: 2020-01-02
公开(公告)号: CN111180454B 公开(公告)日: 2023-01-20
发明(设计)人: 李思晢;周玉婷;汤召辉;张磊;曾凡清 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H10B41/35 分类号: H10B41/35;H10B41/41;H10B41/42;H10B41/27;H10B43/35;H10B43/40;H10B43/27
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;刘静
地址: 430074 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种3D存储器件及其制造方法。该制造方法包括:在衬底上形成第一叠层结构,包括交替堆叠的多个层间绝缘层与栅极导体层,第一叠层结构具有第一台阶结构;形成覆盖第一台阶结构与衬底的第一填充层;形成覆盖第一叠层结构的第二叠层结构,包括交替堆叠的多个层间绝缘层与栅极导体层,第二叠层结构具有第二台阶结构;形成多个第一虚拟沟道柱,第一虚拟沟道柱的至少部分位于第二台阶结构中,至少一个第一虚拟沟道柱的顶面为第二台阶结构的台阶面。该制造方法通过将虚拟沟道柱的顶面与台阶结构的台阶面共面,解决了器件平整度差的问题。
搜索关键词: 存储 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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