[发明专利]检测装置在审
| 申请号： | 201980086448.0 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN113228307A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 加藤博文;纲岛贵徳;内田真;中村卓;泷本昭雄;染谷隆夫;横田知之 | 申请（专利权）人： | 株式会社日本显示器;国立大学法人东京大学 |
| 主分类号： | H01L31/12 | 分类号： | H01L31/12;A61B5/02;A61B5/1455;G06T1/00;H01L27/144 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 马强 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 检测装置具有：传感器基材；多个光电转换元件，设置于传感器基材的检测区域，并输出与照射在各自上的光相应的信号；多个开关元件，分别设置于多个光电转换元件；多条栅极线，分别连接于多个开关元件，并在第一方向上延伸；第一光源，射出具有第一发光极大波长的第一光；以及第二光源，射出具有第二发光极大波长的第二光。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
