[发明专利]用于存储器阵列的泄漏补偿在审
| 申请号： | 201980079522.6 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN113168853A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | D·维梅尔卡蒂 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C5/14 | 分类号： | G11C5/14;G11C11/22 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 描述用于补偿存储器阵列中的例如泄漏电流的噪声的设备和技术。举例来说，泄漏电流可从未被选存储器单元引入到数字线上。在一些情况下，补偿组件可在读取操作的第一阶段期间在所述目标存储器单元已与所述数字线耦合之前与所述数字线耦合。所述补偿组件可对所述数字线上的电流取样并且存储所述所取样电流的表示。在所述读取操作的第二阶段期间，所述目标存储器单元可与所述数字线耦合。在所述第二阶段期间，所述补偿组件可通过在所述读取操作期间基于所述所取样电流的所述所存储表示输出所述数字线上的电流来补偿泄漏或其它寄生效应。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储器 阵列 泄漏 补偿 | ||
【主权项】：
暂无信息
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