[发明专利]检查指示信息产生装置、基板检查系统、检查指示信息产生方法以及检查指示信息产生程序在审
| 申请号： | 201980060230.8 | 申请日： | 2019-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN112689769A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 椹木雅也 | 申请（专利权）人： | 日本电产理德股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R27/08;H05K3/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市右京区西京极*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明根据表示基板的面状导体IP、导电部P、配线W、及通孔V如何导通连接的导电结构信息D1，所述基板包括：导体层Lc、设置有多个导电部P的基板面F、配线层L、以及通孔V，当存在多个经由配线层L的配线W而相互导通的导电部P彼此的群组时，执行如下的检查指示信息产生处理：自所述各群组中各选择一对导电部P作为第一选择导电部，并将表示所述经选择的多对第一选择导电部的信息作为检查指示信息D2来产生。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 指示 信息 产生 装置 系统 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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