[发明专利]光学测量装置及光学测量方法有效
| 申请号： | 201980057874.1 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN112639392B | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 梶井阳介;近藤智则 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可在不针对每个测量条件设定阈值的情况下判定在测量值中可能产生的噪声的有无。一种光学测量装置(100)，基于由对象物(TA)反射的反射光的光接收量来获得测量值，且包括：设定部(52)，基于与光学测量装置(100)的光量相关的特性信息，设定相对于反射光的每单位时间的光接收量的阈值；以及判定部(53)，基于阈值来判定测量值的噪声的有无。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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