[实用新型]一种保证大功耗GAN芯片导热层厚度的点胶治具有效
申请号: | 201922400765.5 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN211265416U | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
发明(设计)人: | 程浪;卢茂聪;张怡 | 申请(专利权)人: | 广东气派科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 深圳市深软翰琪知识产权代理有限公司 44380 | 代理人: | 周玉红 |
地址: | 523330 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及一种保证大功耗GAN芯片导热层厚度的点胶治具,包括点胶头,所述点胶头内部设有出胶通道,所述出胶通道的底端设有横截面形状为矩形的定形胶槽,所述定形胶槽的尺寸与所要焊接的芯片尺寸相匹配,所述定形胶槽竖截面为上窄下宽的外喇叭形,所述点胶头底面还设有多条排气通道,所述排气通道与定形胶槽连通。在进行点胶时,需要点胶头与引线框基岛表面贴合,然后再进行点胶,使烧结银胶充满定形胶槽,从而得到均匀一致、尺寸精准的点胶厚度,胶量也得到了控制;点胶的形状为矩形,与芯片适配,不易引发芯片边缘爬胶过高,污染芯片的情况,从而解决了现有技术中点胶厚度和形状无法精准控制的难题。 | ||
搜索关键词: | 一种 保证 功耗 gan 芯片 导热 厚度 点胶治具 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东气派科技有限公司,未经广东气派科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201922400765.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种高效蒸汽冷凝装置
- 下一篇:一种组装式锂电路灯
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造