[实用新型]一种芯片检测装置

摘要

本实用新型公开了一种芯片检测装置，用于方便改变芯片的测试环境温度。该芯片检测装置包括导热板、设置在导热板上的热电棒、设置在导热板上的热电偶、以及温控器。导热板包括容置腔，容置腔用于容置待检测的芯片。热电棒用于产生热量，热电偶用于探测导热板的温度。而温控器和热电棒通信连接，温控器和热电偶电连接，温控器用于根据热电偶探测到的导热板的温度控制热电棒的发热量。因导热板的容置腔用于容置待检测的芯片，从而通过热电棒改变导热板的温度后，即可实现改变芯片的测试环境温度，且温控器可根据该温度控制热电棒的发热量，从而让导热板的温度更为精确，这样，可方便改变芯片的测试环境温度。