[实用新型]一种半导体分立器件的半自动检测装置

摘要

本实用新型公开了一种半导体分立器件的半自动检测装置，属于半导体分立器件的封装检测设备领域。包括工作台、放大镜、卷盘、过渡辊和支撑辊，所述工作台包括中间的检测台面，以及和检测台面一体相连的左侧的放卷架与右侧的收卷架，所述放卷架和收卷架上分别设有卷轴，所述卷盘安装在卷轴上，卷轴一端设有马达驱动，所述过渡辊安装在检测台面侧面的拐角处，所述放大镜位于检测台面中部，支撑辊安装在放大镜两侧；本实用新型通过两侧的马达独立控制左侧的卷盘自动放卷和右侧卷盘自动收卷，使得半导体分立器件的编带放卷、收卷方便，提高了检测效率，而且由支撑辊支撑编带位于放大镜下方的高度一致，确保了检测准确度。