[实用新型]一种半导体VREF基准值测试设备有效
| 申请号： | 201920854871.8 | 申请日： | 2019-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN210136265U | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 邢小亮 | 申请（专利权）人： | 无锡世百德微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 南京禾易知识产权代理有限公司 32320 | 代理人： | 李海霞 |
| 地址： | 214000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体VREF基准值测试设备，涉及半导体检测技术领域，为解决现有技术中的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低的问题。所述固定底座的上方设置有控制台，所述控制台的外表面设置有数值显示屏，所述数值显示屏的一侧设置有控制按键，所述数值显示屏的另一侧设置有第一调节旋钮，所述第一调节旋钮的一侧设置有第二调节旋钮，所述第二调节旋钮的上方设置有电源开关，所述控制台的上方设置有第一检测台，所述第一检测台的一侧设置有第二检测台，所述第一检测台和第二检测台的一侧均设置有外接放电孔，所述第一检测台和第二检测台的另一侧均设置有移动轨杆，且移动轨杆有两个。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 vref 基准 测试 设备 | ||
【主权项】：
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