[实用新型]一种半导体开短路测试设备有效
| 申请号： | 201920841309.1 | 申请日： | 2019-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN210136293U | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 邢小亮 | 申请（专利权）人： | 无锡世百德微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52;G01R31/54;G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 南京禾易知识产权代理有限公司 32320 | 代理人： | 李海霞 |
| 地址： | 214000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体开短路测试设备，包括测试设备本体，所述测试设备本体的顶部转动连接有支撑柱，所述支撑柱的一侧固定连接有卡块，所述卡块上滑动插设有卡杆，所述测试设备本体的顶部环绕设有与卡杆对应的多个卡槽，所述卡杆靠近测试设备本体的一端固定套接有卡套，所述卡杆远离卡套的一端固定连接有拉杆，所述支撑柱远离卡块的一侧设有滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆，所述螺杆上螺纹套接有支撑板，所述螺杆的一端贯穿滑槽的内顶部并向上延伸，所述螺杆延伸的一端固定连接有旋钮。本实用新型通过多处调节机构的设置，使装置可以很好的对半导体进行固定调节，从而提升了测试设备的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 短路 测试 设备 | ||
【主权项】：
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