[发明专利]基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置及方法在审
| 申请号： | 201911409072.0 | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN111208349A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 张玉;黎永健 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯天下技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R22/06 | 分类号： | G01R22/06 |
| 代理公司： | 深圳市特讯知识产权代理事务所(普通合伙) 44653 | 代理人： | 何明生 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区横*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置及方法，该装置包括FPGA开发板、直流稳压电源及电流表；其中，FPGA开发板，用于提供Nor Flash芯片的测试工位，设置有控制单元，所述控制单元用于发送指令时序对Nor Flash芯片进行测试以及提供时钟信号；直流稳压电源，用于Nor Flash芯片供电；电流表，用于读取Nor Flash芯片的电流；Nor Flash芯片及直流稳压电源通过FPGA开发板的走线连接于FPGA开发板上，电流表在直流稳压电源与Nor Flash芯片断路时与Nor Flash芯片串联进行测试。使用FPGA开发板，线路简单，可以避免外挂电阻以及负载电容对功耗带来的影响，测试所得的功耗值更接近芯片实际的功耗值，测试装置构造简单，测试方法简单。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 开发 nor flash 芯片 功耗 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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