[发明专利]基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置及方法

权利要求书

1.一种基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置，其特征在于，包括FPGA开发板、直流稳压电源及电流表；其中

FPGA开发板，用于提供Nor Flash芯片的测试工位，设置有控制单元，所述控制单元用于发送指令时序对Nor Flash芯片进行测试以及提供时钟信号；

直流稳压电源，用于Nor Flash芯片供电；

电流表，用于读取Nor Flash芯片的电流；

Nor Flash芯片及直流稳压电源通过FPGA开发板的走线连接于FPGA开发板上，电流表在直流稳压电源与Nor Flash芯片断路时与Nor Flash芯片串联进行测试。

2.根据权利要求1所述的基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置，其特征在于，所述控制单元由FPGA开发板上的主控芯片模块、晶振模块、电源分配供给模块、复位模块及JTAG接口模块组成，其中，主控芯片模块用于向Nor Flash发送指令；JTAG接口模块用于编译下载含有指令时序信息的比特率文件；电源分配供给模块用于FPGA开发板上的供电分配；晶振模块提供FPGA开发板各模块工作所需的频率；复位模块用于物理复位。

3.根据权利要求2所述的基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置，其特征在于，所述电流表的精度为10^-5mA。

4.根据权利要求3所述的基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置，其特征在于，所述主控芯片模块为XC3S500E。

5.一种基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试方法，其特征在于，包括步骤：

基于FPGA开发板编写Verilog测试代码，所述测试代码为Nor Flash芯片待测工作模式的指令时序；

创建含有PLL分频的ISE工程，配置Nor Flash芯片的频率；

通过烧录器将指令时序写入Nor Flash芯片，以使Nor Flash芯片获得指令时序；

接入直流稳压电源，设定Nor Flash芯片的电压；

串联电流表至Nor Flash芯片的通路上，对FPGA开发板进行复位操作，稳定后获得NorFlash芯片的功耗。