[发明专利]基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置及方法

说明书

本发明公开一种基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置及方法，该装置包括FPGA开发板、直流稳压电源及电流表；其中，FPGA开发板，用于提供Nor Flash芯片的测试工位，设置有控制单元，所述控制单元用于发送指令时序对Nor Flash芯片进行测试以及提供时钟信号；直流稳压电源，用于Nor Flash芯片供电；电流表，用于读取Nor Flash芯片的电流；Nor Flash芯片及直流稳压电源通过FPGA开发板的走线连接于FPGA开发板上，电流表在直流稳压电源与Nor Flash芯片断路时与Nor Flash芯片串联进行测试。使用FPGA开发板，线路简单，可以避免外挂电阻以及负载电容对功耗带来的影响，测试所得的功耗值更接近芯片实际的功耗值，测试装置构造简单，测试方法简单。

技术领域

本发明属于Nor Flash芯片测试技术领域，尤其涉及一种基于FPGA开发板的NorFlash芯片功耗测试装置及方法。

背景技术

Nor Flash作为一种存储Nor Flash芯片，通常作为一种程序运行和存储的工具，应用在平板电脑，车载设备，监控和机顶盒等终端设备上。随着行业的发展，Nor Flash的性能指标也越来越严苛，其中一项重要的指标就是Nor Flash的功耗。

目前测量功耗的方法有很多，大多使用的方法(以Nor Flash Nor Flash芯片读数据为例)是在Nor Flash芯片电源端外挂电阻R，记录Nor Flash芯片待机时的工作电压(即Nor Flash芯片电源电压)V1，Nor Flash芯片在读数据时的稳定电压V2，根据计算公式ICC＝(V1-V2)/R。虽然这种测试方法可以测出Nor Flash芯片在某种工作状态下的功耗。但是会带来两个问题，第一个问题是由于Nor Flash Nor Flash芯片的读功耗只有几毫安～几十毫安之间，外挂电阻R过大或者过小都将对测试值产生较大的影响。第二个问题是在记录电压V1和V2时，一般使用示波器采样，示波器探头的负载电容也会对测试结果产生较大的影响。

同时，为了更好地评估Nor Flash芯片的性能，一般需要得到Nor Flash NorFlash芯片在不同频率，不同电压，不同指令下功耗的最大值，最小值和典型值。多个影响因素使得测试难度加大，测试结果的不确定性加大。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置及方法，旨在避免使用传统测试需外挂电阻、测电压差方法测试功耗所带来的误差。

为实现上述目的，本发明提供了一种基于FPGA开发板的Nor Flash芯片功耗测试装置，包括FPGA开发板、直流稳压电源及电流表；其中

FPGA开发板，用于提供Nor Flash芯片的测试工位，设置有控制单元，所述控制单元用于发送指令时序对Nor Flash芯片进行测试以及提供时钟信号；

直流稳压电源，用于Nor Flash芯片供电；

电流表，用于读取Nor Flash芯片的电流；

Nor Flash芯片及直流稳压电源通过FPGA开发板的走线连接于FPGA开发板上，电流表在直流稳压电源与Nor Flash芯片断路时与Nor Flash芯片串联进行测试。

进一步地，所述控制单元由FPGA开发板上的主控芯片模块、晶振模块、电源分配供给模块、复位模块及JTAG接口模块组成，其中，主控芯片模块用于向Nor Flash发送指令；JTAG接口模块用于编译下载含有指令时序信息的比特率文件；电源分配供给模块用于FPGA开发板上的供电分配；晶振模块提供FPGA开发板各模块工作所需的频率；复位模块用于物理复位。

进一步地，所述电流表的精度为10^-5mA。

进一步地，所述主控芯片模块为XC3S500E。