[发明专利]一种用于局部形变测量的稀疏标志点数据配准方法及装置在审
| 申请号： | 201911388660.0 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111192300A | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 崔海华;田威;石诚;廖文和;程筱胜;张益华 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06T7/33 | 分类号： | G06T7/33 |
| 代理公司： | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人： | 苏一帜 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种用于局部形变测量的稀疏标志点数据配准方法及装置，涉及光学测量技术领域，能够提高局部形变测量场景下的稀疏标志点数据配准的准确度。本发明包括：从所拍摄的标志点中得到稀疏标志点点集；将所述稀疏标志点点集的拓扑信息转化为特征描述，得到特征描述结果；根据所述特征描述结果，建立变形前后的标志点的对应关系；根据所述对应关系确定未发生形变的标志点，并利用未发生形变的标志点进行配准。本发明用于局部形变后，将前后稀疏标志点数据配准到同一测量坐标系下。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 局部 形变 测量 稀疏 标志 数据 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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