[发明专利]一种光电半导体器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201911358528.5 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN111081796A 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 程元伟 申请(专利权)人: 宿州市高智信息科技有限公司
主分类号: H01L31/0236 分类号: H01L31/0236;H01L31/18
代理公司: 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 代理人: 王新爱
地址: 234000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种光电半导体器件及其制备方法,其要点是,包括以下工艺步骤:1)提供衬底,在衬底上依次生长底电池、第一隧道结、中间电池、第二隧道结、子电池、第三隧道结、顶电池;2)在顶电池上沉积多晶硅层,多晶硅层的厚度为550~600nm,并采用POCl对多晶硅层进行掺杂;3)在多晶硅上涂布光刻胶,并选择性掩蔽和腐蚀光刻胶,在多晶硅层上形成刻蚀窗口,腐蚀刻蚀窗口,露出刻蚀窗口底部相对应的顶电池,从而在多晶硅层上得到凹槽;4)对凹槽内进行等离子体反应刻蚀,在凹槽底部的顶电池上得到凹凸不平的表面。本发明提高了吸收面的接收光密度,降低了芯片尺寸,提高了芯片集成度。
搜索关键词: 一种 光电 半导体器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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