[发明专利]测试板、测试架及高加速应力测试的温差控制系统及方法有效
| 申请号： | 201911267833.3 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111124004B | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 唐俊华;宁福英 | 申请（专利权）人： | 苏州通富超威半导体有限公司 |
| 主分类号： | G05D23/20 | 分类号： | G05D23/20;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 郭栋梁 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试板、测试架及高加速应力测试的温差控制系统及方法，该测试板包括：基板和阵列式分布在基板上的多个样品卡槽，基板的一侧边设置有引脚，样品卡槽用于装载待测样品，样品卡槽上设置散热组件，散热组件位于待测样品背离样品卡槽的面上，散热组件通过螺纹件固定在样品卡槽；所述测试架包括相互垂直的第一连接部、第二连接部以及测试板。本申请公开的测试板和测试架使产品的温度均衡，降低芯片温度与试验箱环境温度的温差，真实模拟实验环境下样品的工作状态，及时发现设计和工艺故障；本申请公开的控制方法能够实时监控测试样品与试验箱体的温差，不需要人工监控和调节温差，进一步保证真实模拟产品失效状态。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 加速 应力 温差 控制系统 方法 | ||
【主权项】：
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