[发明专利]测试板、测试架及高加速应力测试的温差控制系统及方法有效
申请号: | 201911267833.3 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN111124004B | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 唐俊华;宁福英 | 申请(专利权)人: | 苏州通富超威半导体有限公司 |
主分类号: | G05D23/20 | 分类号: | G05D23/20;G01R31/26 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 郭栋梁 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 加速 应力 温差 控制系统 方法 | ||
1.一种高加速应力测试的温差控制系统,其特征在于,包括:
试验箱、电源、第一温度传感器、第二温度传感器、处理器、控制器以及测试架;
所述测试架包括:相互垂直的第一连接部、第二连接部以及测试板;所述第一连接部表面间隔开设有相互平行的至少两个插槽,所述第一连接部位于相邻两个所述插槽之间设置有接线端子,所述插槽与所述测试板的引脚相对应,所述第二连接部表面开设至少两个凹槽,所述凹槽与所述插槽的位置对应并垂直,用于固定所述测试板与所述引脚所在侧边相邻的侧边;
待测试样品通过电线连接所述测试架上的接线端子,所述测试架安装在所述试验箱内部,所述测试架上的接线端子与所述试验箱内部对应的接线端子连接,所述电源用于为所述试验箱提供电源实现电压加载,所述第一温度传感器和所述第二温度传感器均连接处理器,所述第一温度传感器位于待测样品表面,用于检测待测试样品表面温度,所述第二温度传感器位于所述试验箱内,用于测试所述试验箱内部温度,所述处理器用于处理所述测试样品表面温度和所述试验内部温度得到温差,所述处理器连接所述控制器,所述控制器根据所述温差控制所述电源的通断。
2.根据权利要求1所述的温差控制系统,其特征在于,所述测试板包括:基板和阵列式分布在所述基板上的多个样品卡槽,所述基板的一侧边设置有引脚,适于连接外部电路,所述样品卡槽用于装载待测样品,其特征在于,所述样品卡槽上设置有散热组件,所述散热组件位于待测样品背离所述样品卡槽的面上,所述散热组件通过螺纹件固定在所述样品卡槽上,所述待测样品和所述散热组件之间填充有导热层,所述导热层紧贴待测样品和所述散热组件,所述散热组件包括位于所述样品卡槽开口上的铜片,所述铜片表面焊接有铝合金散热片,所述铜片通过所述螺纹件固定在所述样品卡槽上。
3.根据权利要求2所述的温差控制系统,其特征在于,所述铜片的长度等于所述样品卡槽的长度,所述铜片的宽度等于所述样品卡槽两外侧壁之间的宽度。
4.根据权利要求2所述的温差控制系统,其特征在于,待测样品与所述散热组件之间填充导热层,所述导热层的厚度满足所述导热层的上表面与所述样品卡槽的开口平齐,所述导热层的宽度不超过所述样品卡槽两内侧壁之间的宽度。
5.根据权利要求4所述的温差控制系统,其特征在于,所述导热层为硅胶垫片。
6.根据权利要求1所述的温差控制系统,其特征在于,所述测试架的所述第二连接部相邻两个所述凹槽之间设置至少一个镂空区。
7.一种高加速应力测试的温差控制方法,其特征在于,基于权利要求1-6任一项所述的控制系统,具体包括:
获取高功耗产品表面温度和试验箱内部温度;
计算所述高功耗产品表面温度和试验箱内部温度的温差;
根据所述温差控制电源工作状态,当所述温差超过10℃时,则关闭电源停止电压加载,同时进行计时,计时30min后,再次打开电源加载电压,循环操作。
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