[发明专利]一种高频无线充电效率及损耗测试系统及方法有效
| 申请号： | 201911266352.0 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111366782B | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 许校嘉;张政;胡新跃;申屠嘉辉 | 申请（专利权）人： | 横店集团东磁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R21/00 | 分类号： | G01R21/00;G01R27/26 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 322118 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高频无线充电效率及损耗测试系统及方法，包括信号发生器1、功率放大器2、测试电路板3和示波器4，信号发生器1与功率放大器2的输入端连接，信号发生器1用于产生测试所需的高频信号，功率放大器2的输出端与测试电路板3连接，功率放大器2用于将信号发生器1产生的高频信号转换成高频功率电源，测试电路板3与示波器4连接，示波器4用于显示测试电路板3上的电流波形和大小以及电压波形和大小。本发明通过采用不同的材料制作成的磁片线圈，计算该材料的充电转换效率，选取出更加合适的无线充电材料；通过精确测试高频下的无线充电效率及损耗，为高频无线充电性能测试提供了方法，为无线充电效率的提高提供了基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高频 无线 充电 效率 损耗 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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