[发明专利]基于离子注入边缘终端的垂直AlN肖特基二极管及制作方法在审
申请号: | 201911258100.3 | 申请日: | 2019-12-10 |
公开(公告)号: | CN110957375A | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 赵胜雷;宋秀峰;张进成;张雅超;刘志宏;张春福;陈大正;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/20;H01L29/06;H01L21/329 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于离子注入边缘终端的垂直AlN肖特基二极管,主要解决现有技术击穿电压较低,可靠性较差的问题。其自下而上包括衬底(1)、n+层(2)、漂移层(3),衬底(1)的下部设有阴极(5),漂移层(3)的上部设有阳极(6),漂移层(3)和阳极(6)上部设有钝化层(7),阳极(6)下方的漂移层(3)中通过离子注入形成边缘终端(4)。本发明由于对衬底、n+层和漂移层均采用AlN材料,并采用离子注入边缘终端降低阳极下方边缘电场峰值,提高了器件的击穿电压和可靠性,可作为大功率系统以及开关应用的基本器件。 | ||
搜索关键词: | 基于 离子 注入 边缘 终端 垂直 aln 肖特基 二极管 制作方法 | ||
【主权项】:
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