[发明专利]一种快速检测过氧化氢含量的方法在审
| 申请号： | 201911174672.3 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110779907A | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 李剑锋;温宝英 | 申请（专利权）人： | 启东科赛尔纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 32257 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 郭磊 |
| 地址： | 226200 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于快速检测过氧化氢含量的SERS芯片，所述SERS芯片包括基底以及滴加于所述基底上的增强纳米粒子，所述基底上修饰有苯硼酸类分子，所述增强纳米粒子包括金纳米粒子以及包裹于所述金纳米粒子表面的惰性壳层。本发明还提供了一种利用所述SERS芯片快速检测过氧化氢含量的方法，包括将含有过氧化氢代谢产物的溶液滴在所述SERS芯片上，进行拉曼光谱测试，得到过氧化氢与苯硼酸类分子反应后的拉曼图谱，与标准曲线对照，从而计算出过氧化氢的含量。本发明的检测方法具有前处理简单、快速、高效、特异性强的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 过氧化氢 芯片 基底 金纳米粒子 快速检测 纳米粒子 苯硼酸 过氧化氢代谢 拉曼光谱测试 过氧化氢的 标准曲线 惰性壳层 分子反应 特异性强 前处理 溶液滴 滴加 修饰 图谱 检测 | ||
【主权项】：
1.一种用于快速检测过氧化氢含量的SERS芯片，其特征在于，所述SERS芯片包括基底以及滴加于所述基底上的增强纳米粒子，所述基底上修饰有苯硼酸类分子，所述增强纳米粒子包括金纳米粒子以及包裹于所述金纳米粒子表面的惰性壳层。/n
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