[发明专利]一种快速检测过氧化氢含量的方法在审
| 申请号： | 201911174672.3 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110779907A | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 李剑锋;温宝英 | 申请（专利权）人： | 启东科赛尔纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 32257 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 郭磊 |
| 地址： | 226200 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 过氧化氢 芯片 基底 金纳米粒子 快速检测 纳米粒子 苯硼酸 过氧化氢代谢 拉曼光谱测试 过氧化氢的 标准曲线 惰性壳层 分子反应 特异性强 前处理 溶液滴 滴加 修饰 图谱 检测 | ||
1.一种用于快速检测过氧化氢含量的SERS芯片，其特征在于，所述SERS芯片包括基底以及滴加于所述基底上的增强纳米粒子，所述基底上修饰有苯硼酸类分子，所述增强纳米粒子包括金纳米粒子以及包裹于所述金纳米粒子表面的惰性壳层。
2.如权利要求1所述的用于快速检测过氧化氢含量的SERS芯片，其特征在于，所述基底为硅基金膜或银膜。
3.如权利要求1所述的用于快速检测过氧化氢含量的SERS芯片，其特征在于，所述苯硼酸类分子为4-巯基苯硼酸或4-氰基苯硼酸。
4.如权利要求1所述的用于快速检测过氧化氢含量的SERS芯片，其特征在于，所述金纳米粒子的粒径为40～60nm。
5.如权利要求1所述的用于快速检测过氧化氢含量的SERS芯片，其特征在于，所述惰性壳层为二氧化硅壳层，厚度为1～2nm。
6.一种快速检测过氧化氢含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)提供如权利要求1-5任一项所述的SERS芯片；
(2)将含有过氧化氢代谢产物的溶液滴在所述SERS芯片上，进行拉曼光谱测试，得到过氧化氢与苯硼酸类分子反应后的拉曼图谱，与标准曲线对照，从而计算出过氧化氢的含量。
7.如权利要求6所述的快速检测过氧化氢含量的方法，其特征在于，所述标准曲线通过以下步骤建立：
(1)提供一系列不同浓度的过氧化氢标准样品溶液；
(2)将所述一系列不同浓度的过氧化氢标准样品溶液滴加于SERS芯片上，通过拉曼光谱测试仪进行检测，记录检测结果，建立拉曼检测信号强度与过氧化氢标准样品溶液浓度之间的标准曲线。
8.如权利要求7所述的快速检测过氧化氢含量的方法，其特征在于，建立标准曲线时，以1023cm-1特征峰的峰面积和1078cm-1特征峰的峰面积的比值与过氧化氢的浓度来绘制标准曲线。
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