[发明专利]一种碳化硅薄壁结构件的制备方法在审

专利信息
申请号: 201911156094.0 申请日: 2019-11-22
公开(公告)号: CN112830786A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 杨金 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十八研究所
主分类号: C04B35/571 分类号: C04B35/571;C04B35/573;C04B35/622
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 徐好
地址: 410111 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种碳化硅薄壁结构件的制备方法,包括以下步骤:S1、利用石墨基材制作模具;S2、采用化学气相沉积法在石墨基材表面生长碳化硅;S3、从工件的边缘处切割碳化硅包裹部分使内部的石墨基材重新裸露出来;S4、将工件中的石墨基材完全与氧气进行反应,获得固体碳化硅工件。本发明具有碳化硅薄壁结构件具有较高的纯度,有利于避免高温、污染、氧化、腐蚀等问题,有助于提高设备工艺能力和稳定性的优点。
搜索关键词: 一种 碳化硅 薄壁 结构件 制备 方法
【主权项】:
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