[发明专利]应变薄膜异质结、制备方法及应用有效

专利信息
申请号: 201911131880.5 申请日: 2019-11-19
公开(公告)号: CN110804727B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 汪渊;孙森;向钢;王焕明 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/02;C23C14/06;C23C14/58;H01L29/165
代理公司: 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 代理人: 杨国瑞
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种应变薄膜异质结、制备方法及应用,属于半导体薄膜制备技术领域,制备方法包括在多靶共溅磁控溅射真空室中分别装入高纯硅靶、高纯锗靶、高纯硼靶及高纯本征单晶锗衬底;将高纯本征单晶锗衬底加热至250℃;预溅射硅靶、锗靶以及硼靶各20min;溅射锗靶并沉积锗过渡层,共溅射沉积Si0.25Ge0.75层;保持250℃温度一小时后,待冷却到室温,得到沉积态的Si0.25Ge0.75/Ge薄膜异质结然后退火,整个过程在惰性气体中进行;该方法能够快速制备出Si0.25Ge0.75/Ge应变薄膜异质结,Si0.25Ge0.75/Ge应变薄膜异质结具有均匀的全局应变。
搜索关键词: 应变 薄膜 异质结 制备 方法 应用
【主权项】:
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