[发明专利]InAs/InSb复合型量子点及其生长方法在审

专利信息
申请号: 201911093961.0 申请日: 2019-11-08
公开(公告)号: CN110797751A 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 袁野;牛智川;苏向斌;杨成奥;张宇 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/34 分类号: H01S5/34;H01S5/343
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 吴梦圆
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种InAs/InSb复合型量子点及其生长方法,该生长方法包括对衬底进行脱氧处理,得到第一衬底;在第一衬底上生长缓冲层;在缓冲层上生长InAs/InSb复合型量子点层;在InAs/InSb复合型量子点层上生长盖层,即完成所述InAs/InSb复合型量子点的生长。本发明采用新型的外延方式生长InAs/InSb复合型量子点,有效规避了InAsSb量子点外延时带来的表面活性剂效应,获得了良好的量子点形貌,同时也实现了量子点的能级改善,便于实现获得发光质量良好的长波长量子点。
搜索关键词: 量子点 生长 衬底 量子点层 缓冲层 表面活性剂效应 外延方式生长 能级 形貌 生长盖层 脱氧处理 长波长 发光
【主权项】:
1.一种InAs/InSb复合型量子点的生长方法,包括:/n对衬底进行脱氧处理,得到第一衬底;/n在第一衬底上生长缓冲层;/n在缓冲层上生长InAs/InSb复合型量子点层;/n在InAs/InSb复合型量子点层上生长盖层,即完成所述InAs/InSb复合型量子点的生长。/n
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