[发明专利]一种采用极端顶点法针对均质低介微波基板配方设计方法在审

专利信息
申请号: 201911060788.4 申请日: 2019-11-01
公开(公告)号: CN110746138A 公开(公告)日: 2020-02-04
发明(设计)人: 金霞;李攀;郭晓光;张海涛;王丽婧;韩伏龙;贾倩倩;张立欣;鲁思如 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: C04B26/08 分类号: C04B26/08
代理公司: 12105 天津中环专利商标代理有限公司 代理人: 王凤英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种采用极端顶点法针对均质低介微波基板配方设计方法。根据基板的介电性能指标要求,确定基板的组成成分;采用极端顶点设计法对玻璃纤维、无机填料、聚四氟乙烯乳液三种组分进行优化;进行单因子实验优化添加剂的用量,最后利用等值线图和曲面图,使用响应变量优化器,得到实验区域内全部添加剂比例的拟合值。本方法解决了材料的配方设计,将连续型变量的实验次数减少至10次以内,实验成本可减少80%以上;通过使用响应曲面分析法,获得包含全部显著项在内的最佳参数组合,满足顾客提出的多种性能指标的需求;通过配方优化及加工过程控制,获得介电性能一致性良好的均质低介微波复合介质基板,为均质材料的连续生产奠定基础。
搜索关键词: 介电性能 配方设计 低介 基板 均质 聚四氟乙烯乳液 复合介质基板 单因子实验 连续型变量 优化添加剂 变量优化 玻璃纤维 次数减少 等值线图 均质材料 配方优化 曲面分析 实验成本 实验区域 微波基板 无机填料 指标要求 最佳参数 顶点法 曲面图 响应 拟合 添加剂 微波 顾客 优化
【主权项】:
1.一种采用极端顶点法针对均质低介微波基板配方设计方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:/n步骤一、根据基板的介电性能指标要求,确定均质低介微波复合介质基板的组成成分为相对介电常数为6.0~6.9的玻璃纤维、相对介电常数为3.0~4.0的无机填料、相对介电常数为2.1~2.3的聚四氟乙烯乳液以及辅助添加剂;/n步骤二、通过理论计算得出各组分分量,确定配方中各分量要素的上下界的限制值;/n步骤三、采用极端顶点设计法,进行混料实验设计,采用极端顶点设计法,对玻璃纤维、无机填料、聚四氟乙烯乳液的配方组合进行优化;/n步骤四、拟合选定模型,进行残差分析;/n步骤五、判断模型各项目效应是否显著,直至模型中各项目效应全部显著;/n步骤六、通过等值线图和曲面图观察整个范围内的变化趋势,使用响应变量优化器,准确地求出得到显著因子的最佳配方参数;/n步骤七、进行单因子实验,优化辅助添加剂的用量,提高混料过程的可加工性,利于生产中得到均质的基板材料,确保按照最佳条件进行生产能获得预期效果;/n步骤八、对配方进行验证及固化,进行连续批量生产,并对均质低介微波复合介质基板的测试值进行控制,用控制图监测,确保介电性能的稳定可控。/n
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