[发明专利]一种珍珠光洁度等级检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201911042513.8 申请日: 2019-10-30
公开(公告)号: CN110766683B 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 陈华才;王勇能;陈竹;庞越;王燕 申请(专利权)人: 中国计量大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/62;G06T7/90
代理公司: 杭州钤韬知识产权代理事务所(普通合伙) 33329 代理人: 赵杰香;唐灵
地址: 310018 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种珍珠光洁度等级检测方法,所述方法包括:获取一待测珍珠的全景图像,得到所述待测珍珠的表面成像区域;计算表面成像区域中的像素点个数;选取表面成像区域中的一像素点作为参考像素点,计算该参考像素点与该表面成像区域中的每一个像素点的像素差别信息,统计所述像素差别信息小于一预设阈值的像素点个数,标记为该参考像素点对应的像素点个数;依次标记所述表面成像区域中的每一个像素点所对应的像素点个数;选取像素点个数的最大值,计算所述待测珍珠的瑕疵面积比重,判定所述待测珍珠的光洁度等级。相应的,本发明还公开了珍珠光洁度等级检测系统。通过本发明,实现对珍珠光洁度等级的高精度检测。
搜索关键词: 一种 珍珠 光洁度 等级 检测 方法 系统
【主权项】:
1.一种珍珠光洁度等级检测方法,其特征在于,所述方法包括:/nS1、获取一待测珍珠的全景图像,并根据所述全景图像中的每一个像素点所对应的RGB值,得到所述待测珍珠的表面成像区域;/nS2、计算所述待测珍珠的表面成像区域中的总像素点个数;/nS3、选取所述待测珍珠的表面成像区域中的一像素点作为参考像素点,计算该参考像素点与该表面成像区域中的每一个像素点的像素差别信息,统计所述像素差别信息小于一预设阈值的像素点个数,标记为该参考像素点对应的像素点个数;/nS4、重复所述步骤S3,依次标记所述表面成像区域中的每一个像素点所对应的像素点个数;/nS5、选取像素点个数的最大值,根据所述最大值和待测珍珠的表面成像区域中的总像素点个数,计算所述待测珍珠的瑕疵面积比重;/nS6、根据所述待测珍珠的瑕疵面积比重,判定所述待测珍珠的光洁度等级。/n
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