[发明专利]一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机有效
| 申请号： | 201911027080.9 | 申请日： | 2019-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN112710684B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 胡修稳;查全超 | 申请（专利权）人： | 合肥美亚光电技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/18 | 分类号： | G01N23/18;G01N23/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机，其中，方法包括：获取待校正传感器的当前温度；获取待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；根据当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值；根据目标暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正。在X光成像系统的使用过程中，根据传感器工作温度的变化，选择相应温度下的传感器的暗电平灰度值，使得传感器的暗电平校正过程更加准确，从而可以减少甚至消除各传感器拼接形成的图像出现条纹的现象。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 传感器 灰度 校正 方法 装置 异物 检测 | ||
【主权项】：
暂无信息
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