[发明专利]一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机

说明书

本发明提供的一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机，其中，方法包括：获取待校正传感器的当前温度；获取待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；根据当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值；根据目标暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正。在X光成像系统的使用过程中，根据传感器工作温度的变化，选择相应温度下的传感器的暗电平灰度值，使得传感器的暗电平校正过程更加准确，从而可以减少甚至消除各传感器拼接形成的图像出现条纹的现象。

技术领域

本发明涉及X光成像技术领域，具体涉及一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机。

背景技术

相关技术中，X光成像系统包括X射线源、背景和多个X光传感器，各X光传感器内部均包括闪烁体、感光单元、转换电路和采集电路。闪烁体用于将X光转换为可见光，感光单元用于将可见光转换为电荷，转换电路用于将电荷转换为电压，采集电路用于将模拟信号转为数字信号。

由于闪烁体、感光单元及电路的加工工艺限制，各X光传感器会存在一些暗电平差异。为了消除传感器间差异导致的成像问题，以往的成像系统在使用过程中，会对X光传感器灰度值进行暗电平校正，即传感器输出的灰度值都需要减去一个固定的暗电平校正值。

然而，X光成像系统经常被应用在流水线式在线检测场合，这些应用场合通常会进行较长时间的连续工作，X光成像系统被使用一段时间后，设备的温度会上升，将导致传感器的暗电平校正值发生变化，从而导致使用传统方法对传感器灰度进行校正后，物料图像仍然会存在一些条纹。如图1所示，图1是多个传感器对背景、第一物料和第二物料进行成像并拼接形成的图像，从左至右依次为背景、第一物料和第二物料，图像自上而下区分明显的多个区域是对应多个传感器所成的像，多个传感器所成的像之间形成了条纹，具体的，物料部分相对于背景部分条纹现象更加明显。

发明内容

本发明的目的在于提供一种X光传感器灰度校正方法及装置，用于减少各X光传感器拼接形成的图像出现条纹的现象。

第一方面，本发明实施例提供了一种传感器灰度校正方法，用于对X光成像系统的每个传感器灰度进行校正，所述方法包括：

获取待校正传感器的当前温度；

获取所述待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；

根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，所述第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；

根据所述目标暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正。

可选的，所述第一映射关系是按照以下方式获得的：

确定所述待校正传感器的工作温度范围；

在所述工作温度范围内，利用恒温箱模拟所述待校正传感器的工作温度；

在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值；

将获得的温度与暗电平灰度值的对应关系作为所述第一映射关系。

可选的，所述根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值的步骤，包括：

从所述第一映射关系的多个温度中确定与所述当前温度最接近的温度；

将所述第一映射关系中所确定的温度对应的暗电平灰度值作为目标暗电平灰度值。

可选的，所述方法还包括：

对第二灰度值进行白平衡校正，其中，所述第二灰度值为根据所确定的暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正获得的。

可选的，所述对第二灰度值进行白平衡校正的步骤，包括：